日本JEOL掃描電鏡燈絲

日本JEOL掃描電鏡燈絲

日本JEOL掃描電鏡燈絲

用于電子探針 JXA-iHP200F 機器

核心參數

儀器種類：落地式/傳統大型

電子槍種類：熱場發射

產地類別：進口

二次電子圖象分辨率：2.5nm

放大倍數：40-300,000

加速電壓：1-30kV

背散射電子圖像分辨率：高襯度

最大樣品尺寸：100mmX100mmX50mmH

樣品室可拓展接口數量：多個

樣品臺：五周馬達驅動

檢測器系統：背散射探頭、波譜儀、能譜儀

電子探針顯微分析儀越來越多地被用作鋼鐵、汽車、電子元件和電池材料等各種工業領域的研發和質量保證工具。 它還廣泛應用于地球和行星科學以及材料科學，

并有望為各種前沿研究做出貢獻，例如礦物和材料研究等資源和能源研究，以及各種新材料的材料研究。 相應地，在保持較高的局部痕量元素分析性能的同時，

要求每個人都“輕松"和“快速"地使用儀器。

JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA，經過進一步改進，可滿足這些需求，并使從觀察到分析的操作更加高效。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer的縮寫。

電子探針是電子光學產品中*進行準確定量分析的儀器，利用波譜的高分辨率和能譜的高速度，可以很快將材料中的成份進行精準分析。